近几年，我国政府、企业和单位相继投入巨资进行大规模的网络建设和改造，网络的整体技术水平、硬件设备和规模都可以与国外发达国家相媲美。但是在网络的使用、维护和管理方面却仍然存在相当大的差距。究其原因主要是因为我们缺乏有完整的管理思路和控制管理能力的网络管理人员。

这种缺乏表现在两个方面:一是我们的管理人员缺乏先进的网络管理思想和方法。比如:国外企业中的网管人员是有明确分工的，有设计规划网络的、有负责网络全局管理的、有一线网络维护的、有负责网络安全的……很系统，也很专业。而在我国的大多数企事业单位中，由于多方面的原因使得网络管理人员的数量较少，因此每个人担负的事情就较为繁杂。从设计规划网络、实施构建网络到运行管理网络等各个环节全都要参与。大到网络关键设备的运行调试，小到网络连接跳线的制作检测，样样都要亲历亲为，经常被作为“万能人”来使用。同时由于缺乏科学合理的统筹安排，工作内容的重复、职责范围的交叉，更进一步增加了网络管理的混乱局面。

另一方面由于网管人员自身专业知识和水平所带来的制约。我们的网管人员很多早先都是从事计算机工作的，根本没有接受过网络相关知识的正规学习，属于“半路出家”。虽然通过不断摸索积累了一些工作经验，但由于缺乏对网络管理概念的正确认识、网络管理知识的系统了解，致使网络管理的水平和能力大打折扣。造成网络没有统一的管理规范、管理策略和管理方法，工作无计划、随意性很大，网络的连接混乱、故障查找困难等现象。

针对上述状况，安恒网络维护学院在引进国外先进的网络管理模式并大力宣传推广的同时，总结了多年的网络测试维护经验，推出系列化、专业化、系统化的培训课程。将网络维护管理的理论与实际操作经验相结合，使学员快速提高个人的管理水平。在这里我们向大家介绍安恒网络维护学院的一门基础课程-布线测试认证工程师培训CCTT(Certified Cabling Test Technician) 。

开设这门课程的目的就是弥补网管人员在布线系统的检测维护和故障诊断分析方面知识的不足。使他们了解布线工程质量的好坏对网络传输性能影响的程度。在课程中，我们会全面介绍相关的测试标准、测试参数，讲解每项参数的含义、对网络产生的影响、故障表现及检查排除的方法。例如在众多测试参数中，我们会重点介绍回波损耗(Return Loss)这个参数。回波损耗是针对电缆系统中因阻抗不匹配产生的反射信号能量而进行测量的。信号反射的能量会在电缆链路上产生不希望的干扰信号或“噪声”， 影响链路上信号的可靠传输，妨碍接收器从信号中提取正确的数据。作为噪声源，应对回波损耗进行测量和评估以确保相对于传输信号而言反射信号的能量足够小，不会对传输的可靠性产生负面影响。

回波损耗对于同时双向传输的应用尤其重要。比如，1000BASE-T或千兆以太网在全双工模式(信号可在一个线对上同时、双方向对传)使用了双绞线电缆全部4个线对进行数据的传输。由于阻抗变化或缺陷会沿链路产生信号反射，反射信号被传送回发送器。信号由系统A到系统B传输造成的反射会对同一时刻反方向(由B到A)传输的信号产生干扰——一个附加的噪声成分。同样的原因也会使反向信号传输遭遇相似干扰。对于1000BASE-T网络，回波损耗可占到全部可预计噪声的35%～40%，严重影响接收器输入信号的信噪比。因此为了描述这些噪声成分并检验其是可接受的，电缆链路的每个线对必须双向测试回波损耗性能。

回波损耗测试的是反射信号的能量，该能量是由电缆链路上所有阻抗变化点的综合影响而产生的，包括传输线路的信源(发送端)和终端(接收端)的不阻抗匹配。理想情况下，传输线的特性阻抗、信号源的电阻和负载阻抗彼此相等，不会对传输信号产生反射。实际上很难做到这些阻抗完全匹配相等，稍有变化就会在变化点产生能量反射。回波损耗测试可以捕捉阻抗不匹配的影响并直接给出这些值与额定阻抗值的接近程度。通过时域反射(TDR)测试分析可直接找出反射信号产生的位置。实际上产生阻抗不匹配或变化的原因主要有两种:

1.双绞线电缆的缺陷

双绞线电缆的结构注定不会产生很好的恒定阻抗。在电缆中会产生大量的小的反射。这些反射会以不同的时间延迟抵达链路终端。标准中定义这种围绕特性阻抗平均值的变化为结构回波损耗或SRL。SRL只适用于电缆本身，换句话说电缆质量与SRL有直接关系。高质量的电缆结构可以将电缆上反射的数量和幅值减到最小而得到较为理想的SRL。

2.链路分段间的阻抗不匹配

水平布线用电缆中的每一芯线都是由一根实芯细铜丝构成的。而链路两端的跳线和设备连接线的每一芯线是由多股更细的铜丝构成。因此一般跳线的阻抗值要低于水平电缆的阻抗值，这种差异是造成反射信号并产生回波损耗的原因之一。同样的问题也会发生在电缆与信息模块或配线架的连接上。

由于回波损耗对于安装链路具有挑战性的性能要求，因此测试失败的可能性会比预计的相对高一些。采用时域反射技术可以识别和定位导致链路回波损耗测试失败的阻抗变化点。