无论DWDM采取何种方式提高带宽，无源器件始终处于系统的核心部分。在通向更高带宽的路上，仅仅测量光器件的损耗已经不够了，精确描述和控制所有器件的色散已经是必要的了。全参数测试的需要对今天的测试方法提出了新的挑战。

　　本文将介绍一种测试损耗、偏振相关损耗、群时延和微分群时延的新方法。

　　全参数测试

　　随着网络向更高速率和更窄信道发展，除了信号的损耗，信号运行中的特性也变得重要了。这意味着：对于整个系统，可以接受1个比特周期（40Gbps时为25ps）十分之一的时延。但是由于一个系统包含很多部件，所以每个部件的时延必须更小。

　　大多数无源器件的功能是为光线选路或分流光线的一部分。不能只考虑损耗性能，而不考虑色散特性。在高级网络中，器件的四个参数插入损耗、偏振相关损耗、群时延和微分群时延中的任何一个达不到要求都可能导致整个系统受损甚至中断。因此在开发和制造无源光器件特别是10G和40G高速、窄信道器件时，必须具备测量全部参数的能力。

　　损耗和时延（色散）的测量传统上是两种不同的工作，用不同的方案完成，或者用针对单一参数优化的方案完成。显然，测试仪器需要改进以满足测量全部参数的需求。测试测量仪器必须对所有参数一视同仁，都能精确地描述它们。

　　除此之外，为了缩短测量时间和削减测量成本，任何测量程序都必须尽可能准确、简单。为了使测量的不确定性最小，任何新的测试方法都应该使用一条链路连接被测器件。

　　一种新方法

　　无源器件对光信道进行选路、重定向或阻断。典型的器件有光纤布拉格光栅、薄膜滤波器、阵列波导光栅。因为这些器件的首要任务是波长选路，所以在制造中的某个环节必须精确确定其损耗。这个测量要求高精度、高动态和高分辨率。今天，通常用可调激光器加功率计来满足这些要求。

　　因为窄信道器件的损耗特征总是与陡的色散曲线相伴相生，所以目前的测量色散的方法遇到了难题。要解决这个难题，就要使用一种新方法：扫频零差干涉测量法。

　　在扫频零差干涉测量中，激光器的波长是可调的，干涉仪的臂长保持固定（图1）。一个臂上放置被测器件，另一个臂作参考。光信号通过两臂后合在一起，由一个二极管探测其干涉模式。整个装置没有移动部件。　　此装置扩展后还可以方便地测量器件的传输和反射特性。